温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提供一种高纯钽中痕量杂质元素测定方法，包括：制备钽样品待测溶液；分别建立待测杂质元素的标准曲线；将钽样品待测溶液置于电感耦合等离子体质谱仪内，分别测试获得待测杂质元素的信号强度；根据待测杂质元素的信号强度以及待测杂质元素的标准曲线，分...该专利属于中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司（国营第四三二六厂）所有，仅供学习研究参考，未经过中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司（国营第四三二六厂）授权不得商用。