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本申请揭示一种光晕测试方法及光晕测试设备，该方案在待测显示装置选取出一个或多个待测试区域，以预设灰阶点亮目标测试区域，再获取距离目标测试区域预设范围之内的多个未点亮像素点所在位置的亮度，并获取各未点亮像素点所在位置的亮度对应的归一化灰阶；再...
该专利属于惠科股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠科股份有限公司授权不得商用。

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