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算子的测试方法及装置、非易失性存储介质、电子设备制造方法及图纸
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下载算子的测试方法及装置、非易失性存储介质、电子设备的技术资料
文档序号:38338200
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本申请公开了一种算子的测试方法及装置、非易失性存储介质、电子设备。其中,该方法包括:确定用于接收多个待测试算子库的宏函数接口,其中,多个待测试算子库基于不同的算子库框架;通过宏函数接口对多个待测试算子库中每个待测试算子的算子信息和每个待测试...
该专利属于北京大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京大学授权不得商用。
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