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本发明公开了一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法，该实验方法的装置包括激光芯片(芯片水平两侧端面仅一端镀有增透膜)、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。在芯片两侧的同一水平线上依次放置平凸透镜、偏光镜、平凸透镜、光纤耦合器，用光纤...
该专利属于无锡学院所有，仅供学习研究参考，未经过无锡学院授权不得商用。

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