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本发明公开了一种基于双光梳线性光学采样的光纤时延测量方法及装置，用于解决信息科学以及光纤通信中高精度光纤时延精密测量的问题，其特点是采用两个重复频率有微小差距的光梳模块，其产生的光梳信号分别分束后共计4路光梳信号；其中一个光梳模块产生的光梳...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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