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本发明公开一种基于振镜扫描的双光束场干涉光片显微成像方法，包括：激光分成两路线偏振光经过柱透镜整形形成线状线偏振光；经过激发物镜投射到荧光样品上发生相互干涉产生条纹结构光照明图样；利用电光调制器改变干涉条纹相位，在结构光模式下，实现用步进相...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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