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本发明公开一种电路板的可见光图像与红外图像之间的配准方法及装置。配准方法为:采用图像区域分块统计信息熵,并根据阈值,提取其高熵信息区域作为后续检测特征点的原始图像,在提高特征点质量的同时提升检测效率;选用FAST+SIFT算法相结合的方法提...该专利属于中国电器科学研究院股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国电器科学研究院股份有限公司授权不得商用。
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本发明公开一种电路板的可见光图像与红外图像之间的配准方法及装置。配准方法为:采用图像区域分块统计信息熵,并根据阈值,提取其高熵信息区域作为后续检测特征点的原始图像,在提高特征点质量的同时提升检测效率;选用FAST+SIFT算法相结合的方法提...