温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种可靠性测试方法，包括：选定用于本次可靠性测试的样本数，以及测试芯片中测试扇区的数量；根据已选定的本次可靠性测试的样本数，以及已选定的测试扇区的数量，获得本次可靠性测试中测试芯片的数量；以所述测试芯片的数量和测试扇区的数量，进行本次可靠性...
该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。