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本申请公开了一种老化测试装置，用于存储芯片的老化测试，老化测试装置包括老化测试板和测试座，测试座通过一固定结构，可拆卸的固定在老化测试板上，老化测试座上放置待老化测试的存储芯片，存储芯片包括预设的晶圆测试点和BGA封装球，老化测试板上还包括...
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