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本发明公开了一种芯片同步时钟之间电路跳变故障测试方法，在芯片同步时钟测试电路中，在PLL输出时钟后面连接pulse_ctrl模块，所述pulse_ctrl模块产生内部时钟和复位；包括divider模块，所述divider模块包括分频电路，用...
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