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本发明提出了一种光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统。方法包括：获取在预设可测电压范围内光源电压参数与光源亮度之间的线性关系；基于预设规则选取准电压参数，获取在准电压参数下的光源亮度的测量值和理论值以得到每个准电压参数对应的变...
该专利属于杭州加速科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州加速科技有限公司授权不得商用。

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