温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供了一种芯片仿真测试方法和测试装置，该方法包括：根据多个测试指令在UVM验证平台中建立对应的多个芯片测试任务；在所述UVM验证平台的运行阶段run_phase中，当接收到所述多个测试指令中的至少一个测试指令时，根据所述至少一个测试指...
该专利属于紫光同芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过紫光同芯微电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。