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本发明属于植物根系测定技术领域，具体涉及一种土壤中根系体积的快速测定方法，包括如下步骤：步骤一、获得包括根系及土壤的待测样本；步骤二、待测样本置入测量盒内，测定样本电容和电阻等电性参数；步骤三、用电性参数和根系体积建立根系体积与电性参数的关...该专利属于中国科学院遗传与发育生物学研究所农业资源研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院遗传与发育生物学研究所农业资源研究中心授权不得商用。