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本发明提供了一种多芯粒芯片的故障检测方法和装置，涉及计算机芯片技术领域。该方法包括：获取目标多芯粒芯片的运行数据；对运行数据进行解析，确定目标多芯粒芯片中各芯粒之间的关联关系；其中，关联关系用于表征芯粒之间的通信连接关系；根据每个关联关系，...
该专利属于中诚华隆计算机技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中诚华隆计算机技术有限公司授权不得商用。

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