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本发明涉及测试及数据处理技术领域，尤其涉及一种基于多物理量融合的集成电路特征提取方法，相对传统的集成电路特征提取增加了热阻分布信息和高热点分布信息，并利用分层穿透性更强的超声波采集器扫描到的超声图像对X光图像的缺失部分进行补充，在不破坏壳体...
该专利属于中国船舶集团有限公司第七〇七研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国船舶集团有限公司第七〇七研究所授权不得商用。

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