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本发明涉及涂层缺陷识别技术领域，具体公开了一种装备红外特性评估中涂层缺陷定位及等效方法和系统，所述方法包括基于硬件设备采集涂层的红外图像数据，输出红外图像及其检测数据；根据所述红外图像及其检测数据计算涂层参数；所述涂层参数包括缺陷温度、缺陷...
该专利属于北京摩弈信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京摩弈信息科技有限公司授权不得商用。

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