下载自动化芯片老化测试装置的技术资料

文档序号:37928674

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本实用新型公开一种自动化芯片老化测试装置,包括:柜体和若干个活动安装于柜体内的抽屉,每个所述抽屉的上表面开设有用于放置待测试芯片的芯片槽,所述柜体内上部安装有一水平设置的顶板,该顶板四周边缘处均与柜体内壁密封连接,从而在顶板与柜体之间形成一...
该专利属于江苏凯尔生物识别科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏凯尔生物识别科技有限公司授权不得商用。

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