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本实用新型公开了一种用于半导体测试设备的测试头快换对接机构，涉及半导体芯片搬运测试技术领域。一种用于半导体测试设备的测试头快换对接机构，包括吸头光源上盖和定位座下盖，吸头光源上盖与定位座下盖为上下设置，吸头光源上盖上方设有固定板、导轨、连接...
该专利属于上海梓一测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海梓一测控技术有限公司授权不得商用。

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