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本公开涉及具有调试功能的芯片与芯片调试方法。芯片包含多个功能性电路系统、选择电路系统、数据重构电路系统与切换电路系统。每一功能性电路系统包含解码电路，其储存一组调试信号，并根据多个地址信号中的一者输出该组调试信号中的信号为多个第一信号中的对...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。

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