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本发明提供一种存储器的测试方法，包括：按照第一地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第二地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第三地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第四地址顺序对测试区...
该专利属于广东省科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过广东省科学院半导体研究所授权不得商用。

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