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本发明提出一种用于超导阵列单光子探测器的测试系统，包括测试光源、制冷机和低温读出电路，该系统可以实现不同波段的单光子脉冲响应测试和光谱响应测试，具备不同温度条件的变温测试。该系统利用T型低温偏置器和低温射频放大器，可最大限度降低测试信号的传...
该专利属于西南技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西南技术物理研究所授权不得商用。

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