下载一种缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质的技术资料

文档序号:37864633

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本申请公开了一种缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质。具体包括:获取待测物品的目标点云图像;根据待测物品的棱边半径和目标点云图像,确定待测物品的棱边区域;根据棱边区域和预设顺序的序号,按预设尺寸将棱边区域划分为至少两个识别区;其中,相邻序...
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