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本发明涉及一种基于光频移调制的全光双轴原子磁强计装置及方法。常规的SERF原子磁强计只能实现单轴磁场测量，通过磁场线圈引入高频调制磁场可以实现多轴磁场测量。但是该方法会增大自旋交换弛豫，降低磁场测量灵敏度。同时在阵列化SERF原子磁强计应用...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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