温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种设备枚举测试方法、设备枚举测试装置、测试机及存储介质，属于电子设备技术领域。其中，设备枚举测试方法应用于测试机，所述设备枚举测试方法包括：所述设备枚举测试方法包括以下步骤：获取测试指令，所述测试指令为控制目标接口与所述测试机...
该专利属于深圳市天英联合科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市天英联合科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。