温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明方法为一种基于卷积神经网络的电子元器件缺陷识别方法及系统，包括：采集包括缺陷的多个电子元器件的多模态融合图像，作为原始图像集；确定原始图像集中各电子元器件的缺陷类型和缺陷位置并进行标注，将已标注的数据划分为训练集和测试集；使用所述训练...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。