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本实用新型公开了一种二极管芯片高温耐电测试设备，具体涉及二极管芯片测试技术领域，包括设备外框，所述设备外框的一侧合页安装有门框，所述设备外框中设有控温腔体，所述控温腔体的内壁固定安装有多个支撑架组，所述支撑架组上放置有均匀分布的多个测试件；...
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