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本申请提供一种测试光开关阵列工作状态的装置及方法。涉及多级光开关阵列测试技术领域。通过搭建针对光开关阵列的测试装置，可以实现对各个开关更真实的工作状态的测试，以便基于测试结果对光开关进行标定，提升了测试效率，以及标定的精度。以及标定的精度。...
该专利属于无锡芯光互连技术研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡芯光互连技术研究院有限公司授权不得商用。

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