温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于改进YOLOv5的小样本芯片外观缺陷检测方法及检测系统，该方法包括获取有缺陷的图像作为原始数据集；利用原始数据集训练生成对抗网络，从而获得扩增数据集；在YOLOv5神经网络模型中引入CBAM注意力机制，获得改进YOLOv...
该专利属于河海大学所有，仅供学习研究参考，未经过河海大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。