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本发明提出了一种垂直单光学元件旋转矩阵成像装置的校准方法和系统。所述校准方法包括：按照初始设置参数设置第一补偿器和第二补偿器，并控制垂直式单光学元件旋转型穆勒矩阵成像的测量装置对校准样品的第一次检测，获得所述校准样品对应的第一全部光学性质参...
该专利属于华东师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东师范大学授权不得商用。

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