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本发明公开了一种量块测量装置和及方法，进行量块测量时，消除外界干扰，具有高的精度和可靠性。使用量块测量装置，进行基准测量得到干涉光谱S1和S2，进行量块测量得到干涉光谱P1和P2；由S1获得光线21和22的光程差D
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该专利属于东北大学秦皇岛分校所有，仅供学习研究参考，未经过东北大学秦皇岛分校授权不得商用。

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