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一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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下载一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质的技术资料
文档序号:37781653
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本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:利用编码器网络对待检测图像进行特征提取,得到多个编码特征向量;将所述多个编码特征向量进行拼接,并利用解码器网络对拼接后的向量进行解码,得到与所述多个编码特征向量分别对应的解码特...
该专利属于浙江华睿科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江华睿科技股份有限公司授权不得商用。
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