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本发明提供的一种芯片测试装置，包括底座、测试机构、载物件和磁体，测试机构与所述底座连接，所述测试机构包括若干第一测试探针；载物件与所述底座连接，所述载物件设于所述测试机构一侧，所述载物件上适于放置待测芯片，磁体设于所述载物件一侧；其中，所述...
该专利属于蚌埠希磁科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过蚌埠希磁科技有限公司授权不得商用。

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