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本发明特别涉及用于分布地确定填充物位或极限物位的方法。在此，通过传感器(100)确定回波曲线(300、400、500、600)的有效反射点(312、404、406、602)的特征参数。此外，通过传感器(100)将有效反射点(312、404、...
该专利属于VEGA格里沙贝两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过VEGA格里沙贝两合公司授权不得商用。

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