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外形缺陷识别方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:37771848
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本申请实施例提供了一种外形缺陷识别方法、装置、计算机设备和及存储介质,该方法包括:获得待检测工件的待检测轮廓以及待检测工件对应的标准轮廓;对待检测轮廓与标准轮廓进行匹配处理,得到与待检测轮廓上的各个第一轮廓点匹配且在标准轮廓上的第二轮廓点;...
该专利属于深圳思谋信息科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳思谋信息科技有限公司授权不得商用。
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