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本发明公开了一种磁体结构缺陷检测装置，涉及磁体检测技术领域。本发明主要利用通电导体在磁场中运动时受力的原理来检测磁体结构缺陷，即当在磁体内部出现微小裂缝时，裂缝两侧通常为同极磁极，对应地在磁体整体磁场中，裂缝处的磁性由于相互排斥而表现最弱；...
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