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本申请属于双光频梳测距技术领域，提供一种双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质，系统包括第一光频梳、第二光频梳、环形器、第一耦合器及第二耦合器；第一光频梳以第一重复频率产生的测距光信号经环形器传输至第一耦合器，再经第一耦合器传输至反射镜...
该专利属于武汉万集光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉万集光电技术有限公司授权不得商用。

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