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本公开涉及用于评估半导体电路的老化效应的电路和技术。在一些示例中，一种操作电路的方法可以包括在正常条件下执行电路功能，在恶化条件下执行电路功能，基于电路功能在恶化条件下的输出来预测电路功能在正常条件下的潜在未来问题，以及基于预测潜在未来问题...
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