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本发明涉及用于聚合物纳米膜材料的杨氏模量测量方法，包括构建聚合物纳米膜界面水泡双层复合结构，产生界面水泡，确认界面水泡并对其进行精确成像，3D拟合得到界面水泡的形貌特征，利用原子力显微镜纳米压痕法测量界面水泡的刚度，用能量分析和薄壳理论得到...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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