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本发明公开了一种光轴竖直相机的外基准测试方法，包括：架设测试系统；测试系统包括：激光跟踪仪、激光跟踪仪控制器、经纬仪、经纬仪控制器、上位机和立方棱镜；通过激光跟踪仪分别采集得到光轴数据和线阵数据，并存储；布置公共转站点，架设激光跟踪仪、经纬...
该专利属于北京空间机电研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京空间机电研究所授权不得商用。

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