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本发明公开了一种用于非均匀等离子体射流的双探针、诊断方法及系统，方法包括如下内容：双探针的两根金属电极包裹于非均匀等离子体射流内，通过改变串接在所述双探针上的扫描电压的大小，采集每个扫描电压下所述双探针内的电流，根据扫描电压和对应的电流拟合...
该专利属于中国科学院力学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院力学研究所授权不得商用。

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