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本申请公开了一种缺陷检测模型的训练方法、装置及电子设备。其中，该方法包括：获取训练样本集，以及与训练样本集中的每一组样本对应的第一缺陷标签信息，其中，训练样本集中的每一组样本包括缺陷图像，以及与缺陷图像对应的模板图像，第一缺陷标签信息包括缺...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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