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本发明公开了一种元件完整形貌的点云检测方法、系统、设备及介质，所述方法包括以下步骤：确认待检测元件，获取待检测元件的全域视场；确认全域视场中的待配准视场；对待配准视场执行基于二维配准的点云拼接操作，得到拼接深度图；基于拼接深度图拼接待检测元...
该专利属于苏州赫芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州赫芯科技有限公司授权不得商用。

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