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本发明涉及一种基于逐步回归的光谱数据处理方法、系统、电子设备和介质，所述基于逐步回归的数据处理方法，包括以下步骤：获取已知工业指标数据的定标样品的有效特征值变量；基于定标样品的有效特征值变量和工业指标数据构建多元回归模型；获取待测样品的有效...
该专利属于合肥金星智控科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥金星智控科技股份有限公司授权不得商用。

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