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本发明专利提出一种高安全性低开销的可测试性设计结构；此安全扫描设计结构是在常规扫描链的基础上引入了多重保护逻辑，其中包括测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位；测试验证逻辑用于限制非法入侵者在测试模式下输入测试激励；扫描混淆作用于扫...
该专利属于长沙理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长沙理工大学授权不得商用。

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