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一种透明体缺陷三维检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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下载一种透明体缺陷三维检测方法、装置、设备及存储介质的技术资料
文档序号:37641218
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本发明公开了一种透明体缺陷三维检测方法,该方法包括:光谱共焦传感器扫描透明体,获得透明体各分界面表面点的空间坐标数据,形成点云数据;排除点云数据中作为透明体第一表面的第一特征点和作为透明体第二表面的第二特征点,剩余的点作为第三特征点;在每个...
该专利属于武汉精一微仪器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉精一微仪器有限公司授权不得商用。
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