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本申请公开了一种冷原子Sagnac干涉仪及使用方法，解决了现有技术磁环阱对称性差，磁环腔粗糙，影响测量精度的问题。冷原子Sagnac干涉仪，包含磁环腔产生模块。所述磁环腔产生模块包含上层芯片、下层芯片、上导线圈组和下导线圈组。所述上层芯片和...
该专利属于中国信息通信研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国信息通信研究院授权不得商用。

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