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本发明提供一种提高刻蚀均匀性的静电吸盘,包含:基座;设置在所述基座上的第一介电层,用于承载晶圆;设置在第一介电层与基座之间的第二介电层,所述第二介电层不同区域的介电常数不相同;通过第二介电层实现按区域调节静电吸盘的等效电容,使等离子体能量沿...该专利属于中微半导体设备(上海)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中微半导体设备(上海)股份有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种提高刻蚀均匀性的静电吸盘,包含:基座;设置在所述基座上的第一介电层,用于承载晶圆;设置在第一介电层与基座之间的第二介电层,所述第二介电层不同区域的介电常数不相同;通过第二介电层实现按区域调节静电吸盘的等效电容,使等离子体能量沿...