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本实用新型涉及导光光学薄膜的waviness检测技术领域，提出了一种用于检测导光光学薄膜膜片微观平整度的检测设备，包括主体部件、压盖部件、灯源部件以及透镜部件，所述主体部件包括直筒段以及与直筒段一体连接的锥形筒段，所述直筒段的一端敞开另一端...
该专利属于凯鑫森（上海）功能性薄膜产业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凯鑫森（上海）功能性薄膜产业股份有限公司授权不得商用。

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