温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置，属于光谱分析技术领域，该方法包括：使被测光进入ＤＧＤ装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光；测量输出光与ＤＧＤ值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生...该专利属于北京高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司授权不得商用。