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本发明公开了一种基于KB镜纳米实验系统的高精度定位测量方法及装置。本装置包括两独立的腔体和至少一套稳定性测量系统，稳定性测量系统包括一激光源、一稳定性测量组件、一目标光栅、一反射单元和信号处理单元；其中一腔体内设置纳米KB镜，纳米KB镜上设...
该专利属于中国科学院高能物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院高能物理研究所授权不得商用。

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